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                    Luna 6400 光器件分析儀

                    Luna 6400光器件分析儀主要用于測試無源光器件、模塊和系統,其測試速度快且易于操作??梢詼y試插損(IL)和回損(RL)分布,以及器件長度,具有反射和透射兩種測量模式。

                    Luna 6400系列光器件分析儀采用光頻域反射技術(OFDR),通過探測和分析背向瑞利散射光或者透射光獲取其與距離的函數關系。Luna 6415作為光子集成電路和硅光芯片的理想分析儀,得益于其超高的靈敏度和空間分辨率(20μm)。Luna 6435用于測試網絡、放大器和其他光纖系統的測量范圍已擴展到500米。

                    Luna 6400單臺儀器通過選擇反射或者透射模式就能完成IL、RL、長度等測試,大大降低了測試成本,同時簡化了測試流程,相比其它測試系統,將大大增加測試產量。

                    反射測量模式下,Luna 6400獲取回損分布(vs 長度)。下面的曲線顯示了被選中的反射事件(濾波器)的光譜特性。

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                    商品描述

                    Luna 6400光器件分析儀主要用于測試無源光器件、模塊和系統,其測試速度快且易于操作??梢詼y試插損(IL)和回損(RL)分布,以及器件長度,具有反射和透射兩種測量模式。

                    Luna 6400系列光器件分析儀采用光頻域反射技術(OFDR),通過探測和分析背向瑞利散射光或者透射光獲取其與距離的函數關系。Luna 6415作為光子集成電路和硅光芯片的理想分析儀,得益于其超高的靈敏度和空間分辨率(20μm)。Luna 6435用于測試網絡、放大器和其他光纖系統的測量范圍已擴展到500米。

                    Luna 6400單臺儀器通過選擇反射或者透射模式就能完成IL、RL、長度等測試,大大降低了測試成本,同時簡化了測試流程,相比其它測試系統,將大大增加測試產量。

                    反射測量模式下,Luna 6400獲取回損分布(vs 長度)。下面的曲線顯示了被選中的反射事件(濾波器)的光譜特性。


                    • 回損(RL)和插損(IL)分析

                    • 反射和透射模式分析器件

                    • 光路長度上獲取回損分布

                    • RL和IL頻譜分析

                    • 檢測并精確定位反射事件,測量光路長度(反射模式下達到500米)

                    • 優化生產測試的速度、空間分辨率和精度:-20μm采樣分辨率

                    • RL空間分布測試

                    • IL自動測試和分析

                    • 延遲測量分辨率可達亞皮秒

                    • PLCs、光波導器件、AWGs和ROADMs等測試

                    • 耦合器、光開關和分束器等測試

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