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                    【CIOE2021】捷通參加深圳光博會
                    來源: | 作者:市場部 | 發布時間: 2021-08-21 | 4870 次瀏覽 | 分享到:


                    作為極具規模及影響力的光電產業綜合性展會,第23屆光電博覽會將于2021年9月16-18日在深圳國際會展中心舉辦,同期六展覆蓋信息通信、激光、紅外、紫外、精密光學、鏡頭及模組、傳感等版塊,面向光電及應用領域展示前沿的光電創新技術及綜合解決方案,掌握行業最新動向、洞察市場發展趨勢。捷通技術服務有限公司作為美國LUNA在亞太地區指定代理商及技術服務中心,將攜先進的光纖測量與監測系統亮相光博會。



                    捷通參展主題及產品


                    先進的光纖技術能夠廣泛應用到通信、航空航天、汽車、土木和巖土工程、能源、工業與制造等領域。傳感和無損檢測、通信測試與光子控制能夠為這些應用提供保障。歡迎蒞臨捷通展臺,了解領先的光纖測量與監測解決方案及其廣泛的應用領域:

                    • 通信:更快、更全面測試光纖網絡和光學器件;

                    • 航空航天:通信和航空電子、先進材料和結構以及特種涂層的先進測試和測量解決方案;

                    • 汽車:測試、測量、驗證新材料和新系統;

                    • 土木和巖土工程:堅固耐用、可擴展的實時結構健康監測;

                    • 能源:監測和測量最具挑戰性的應用;

                    • 工業與制造:通過精確可靠的監測提升質量。



                    捷通在本屆光博會上將展示六大應用領域解決方案及明星產品樣機,現場還有專家團隊解答您感興趣的相關應用與技術問題,以及關于傳感和無損檢測、通信測試與光子控制方面的疑問。


                    展示相關解決方案:

                    • 400/800G偏振性能測試:DGD和SOPMD模擬器、PDL模擬器、△SOP/dt變化率模擬器;

                    • 生產制造測試:偏振控制、IL/RL/PDL/PMD/CD/群時延的波長相關測量、分布損耗 vs. 時間/距離、更快、更完整的測試覆蓋率;

                    • 數據中心解決方案:分布式損耗/反射測量、超高分辨率零死區OTDR測量、延遲測量;

                    • 硅光與集成電路(PIC)測量:所有線性光學參數的完整表征、具有高分辨率時域分析的內部探測組件、一次掃描可測得無源器件的線性傳遞函數(瓊斯矩陣)。


                    展示相關產品:

                    • OVA 5100光矢量分析儀——單次掃描即可完成光器件的全參數測試;

                    • LUNA 6415光器件分析儀——高速、高空間分辨率OFDR測量;

                    • NRT-2500偏振控制平臺——靈活、多用途、全功能偏振控制平臺;

                    • ERM-202消光比測量儀——單通道/雙通道、全波段消光比測量儀;

                    • OBR 4610背光反射計——可用于1060nm系統的OBR和高分辨率分布損耗分析。


                    捷通展臺期待您的蒞臨!


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